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X射线实时成像系统采用小焦点高功率

X射线实时成像系统采用小焦点高功率

发布日期:2019-10-21 编辑: 点击:

  X射线实时成像系统采用小焦点高功率X射线源、高灵敏度探测器和高精度运动控制系统,可保证样品检测时的高空间分辨率和的运动定位精度自主研发的采集、重建、数据分析等系列App及根据用户需求定制的功能App,可实现锥束扫描、螺旋扫描、大视野扫描以及数字成像功能,能够完成自动训机,探测器偏置、增益、非线性、像元不一致性校准,自动识别和校正坏像元等,可提供优于探测器原厂的校正功能,有效减少和消除扇束CT散射辐射而造成的图像伪影、硬化等图像质量问题。

X射线实时成像

  激光粒度仪的测量原理要求在测试过程中,样品的浓度以样品中颗粒之间相互不发生二次散射为原则,理论上就是要求悬浮液或者空气中颗粒之间的距离为颗粒直径的3倍,但是这个要求非常难以掌握,因此在实际的粒度测试中,通过调整遮光比的数值来尽量保证颗粒之间不发生二次散射。

  遮光比不宜过大(超过50%)或者过小(低于5%),遮光比过大时,颗粒的浓度过高,容易发生二次散射,测量结果误差增大;遮光比过低,样品中颗粒的浓度太低,颗粒数太少,测试结果的代表性很差,甚至可能导致测试结果是无效的,因此在测试过程中,对遮光比的选取要通过反复试验,以得到正确的测量结果。  性能方面的缺陷,如室温强度、塑性、韧性或疲劳性能等不合格;或者高温瞬时强度、蠕变强度不符合要求等。

X射线实时成像

  性能方面的缺陷,只有在进行了性能试验之后才能确切知道。内部缺陷又可分为低倍缺陷和显微缺陷两类。前者如内裂,缩孔、疏松、白点、锻造流纹紊乱、偏析、粗晶、石状断口、异金属夹杂等;后者如脱碳、增碳、带状组织,铸造组织残留和碳化物偏析级别不符合要求等。专业的CT系统搭建方法和经验,根据客户的需求配置合适选装方案,实现多种扫描模式(二代和三代扫描)和跨尺度检测分辨率光路系统的集成,为客户提供优越样品检测方法,充分挖掘样品的信息。

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